TY  - JOUR
AU  - Franco Peláez, Francisco Javier
AU  - Fabero Jiménez, Juan Carlos
AU  - Mecha López, Hortensia
AU  - Rezaei, Mohammadreza
AU  - Hubert, Guillaume
AU  - Clemente Barreira, Juan Antonio
PY  - 2025
DO  - 10.1109/TNS.2025.3539956
SN  - 0018-9499
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/117998
T2  - IEEE Transactions on Nuclear Science
AB  - ABSTRACT: This paper studies the probability distribution for the expected number of bitflips per round of reading in radiation-ground tests on a memory device where only single bit upsets and multiple cell upsets occur. This distribution is used to...
AB  - RESUMEN: Este artículo estudia la distribución de probabilidad para el número esperado de bitflips por ronda de lectura en pruebas de radiación sobre un dispositivo de memoria donde solo ocurren SBU y/o MCU. Esta distribución se utiliza para estimar...
LA  - eng
M2  - 1403
PB  - IEEE
KW  - SBU
KW  - MCU
KW  - SRAM
KW  - Radiation-ground test
KW  - Probability
KW  - Probability distribution
KW  - Electronic mail
KW  - Data mining
KW  - Computer architecture
KW  - Accuracy
KW  - Shape
KW  - Estimation
KW  - Complexity theory
TI  - Best-fit techniques to estimate SBU/MCU cross sections from radiation-ground tests in memories
TY  - journal article
VL  - 72
ER  -