TY  - PAT
AU  - Martínez Antón, Juan Carlos
PY  - 2013
DO  - WO2013011172, ES2400436 (A1),
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/36764
AB  - El invento permite medir la topografía de superficies pertenecientes a un substrato (22) transparente o traslúcido que deja pasar luz a su través. Frente a la superficie de estudio (221) se acerca otra de referencia (241) de la que se conoce su...
AB  - The invention can be used to measure the topography of surfaces of a transparent or translucent substrate (22) through which light can pass. According to the invention, a reference surface (241) having a known topography is moved closer to the surface...
AB  - L'invention permet de mesurer la topographie de surfaces appartenant à un substrat (22) transparent ou translucide perméable à la lumière. On approche en face de la surface à étudier (221) une surface de référence (241) dont la topographie est connue....
LA  - spa
KW  - Patente
KW  - Absorción óptica
KW  - Medición
KW  - Detección fotoeléctrica
KW  - Ondas de superficie
KW  - Patent
KW  - optical absorption
KW  - measuring arrangements
KW  - photoelectric detection
KW  - curvature measuring
KW  - surface measuring
TI  - Perfilómetro tridimensional por absorción óptica en fluídos
T2  - THREE-DIMENSIONAL PROFILOMETER BASED ON OPTICAL ABSORPTION IN FLUIDS
TY  - patent
ER  -