RT Book, Section
T1 Sistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs
A1 Amigo de la Huerga, Ángel
A1 Palomar Trives, Carlos
A1 Franco Peláez, Francisco Javier
A1 López Calle, Isabel
A1 Cervera, María Fe
A1 Hernández Cachero, Antonio
A1 Agapito Serrano, Juan Andrés
AB En esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricación. Se ha concebido este sistema para que se pudiera construir en una placa de reducidas dimensiones y que, de este modo, pudiera transportarse en la cabina de un avión durante vuelos comerciales.
PB Escuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales. Universidad Politécnica de Madrid
SN 978-84-15302-60-5
YR 2013
FD 2013-07-10
LK https://hdl.handle.net/20.500.14352/35719
UL https://hdl.handle.net/20.500.14352/35719
LA spa
NO En G Drive P1-MIC1.pdfSeminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI 2013) (20. 2013. Madrid).Este trabajo fue financiado parcialmente por el proyecto MCINN AYA2009-13300-C03-03 y por UCM-BSCH.
NO Ministerio de Educación y Ciencia
NO Universidad Complutense de Madrid
NO Banco Santander
NO MCINN
DS Docta Complutense
RD 12 may 2025