RT Book, Section
T1 Sistema automático de inducción de transitorios en dispositivos electrónicos por medio de un laser pulsado
A1 López Calle, Isabel
A1 González Izquierdo, Jesús
A1 Franco Peláez, Francisco Javier
A1 Agapito Serrano, Juan Andrés
AB En este artículo, se describe un sistema que permite emular por medio de un láser los transitorios que pueden producir los rayos cósmicos en los componentes electrónicos. En particular, el sistema está adaptado para examinar componentes analógicos. Este sistema controla un osciloscopio digital conectado a la salida del dispositivo, que sitúa el láser en un punto específico del circuito integrado, y que almacena el transitorio observado en el dispositivo para realizar un posterior estudio estadístico.Este sistema ha sido utilizado para conocer los transitorios que pueden aparecer en un amplificador operacional (LM124) y un comparador de tensión (LM111).
PB [S.n.]
SN 978-84-933682-3-4
YR 2011
FD 2011-07-05
LK https://hdl.handle.net/20.500.14352/45553
UL https://hdl.handle.net/20.500.14352/45553
LA spa
NO [1] R. Harboe-Sorensen, F. X. Guerre, H. Constans, J. Van Dooren, G. Berger and W. Hajdas, "Single event transient characterisation of analog IC's for ESA's satellites," Radiation and Its Effects on Components and Systems, 1999. RADECS 99. 1999 Fifth European Conference on , vol., no., pp.573-581, 1999.[2] R. Harboe-Sorensen, et al, "Observation and analysis of Single Event Effects on-board the SOHO satellite," Radiation and Its Effects on Components and Systems, 2001. 6th European Conference on , vol., no., pp. 37- 43, 10-14 Sept. 2001[3] A. Johnston, S. Thompson, R. Baumann, H. Barnaby, S. Buchner and D. McMorrow, “2005 IEEE NSREC Nuclear and Space Radiaciton Effects Conference Short Course Notebook", Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2005[4] B. E. Pritchard, G. M. Swift, A. H. Johnston. "Radiation Effects Predicted, Observed, and Compared for Spacecraft Systems", IEEE NSREC 2002 Data Workshop Proceedings, 2002: pp. 7-17.[5] V. Pouget, D. Lewis, H. Lapuyade, R. Briand, P. Fouillat, L. Sarger, M. -C. Calvet, “Validation of radiation hardened designs by pulsed laser testing and SPICE analysis”, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, June-July 1999, pp. 931-935.[6] D. McMorrow, W. T. Lotshaw, J. S. Melinger, S. Buchner, and R. L. Pease, "Subbandgap laser-induced single event effects: carrier generation via two-photon absorption ", IEEE Trans. Nucl. Sci., vol. 49, pp.3002 - 3008, Dec. 2002.
NO Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (18. 2011. Badajoz, España).Este trabajo fue financiado por el MCINN a través de los proyectos AYA2009-13300-C03-03 y Consolider SAUUL CSD2007-00013, y por el convenio UCM-BSCH.
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DS Docta Complutense
RD 2 may 2024