TY  - CONF
AU  - Velazco, Raoul
PY  - 2014
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/36078
AB  - Los progresos en las tecnologías de fabricación de circuitos integrados se traducen en un aumento potencial de la sensibilidad a los efectos de las partículas (neutrones, protones, iones pesados…) presentes en el entorno en que funcionan. Los pulsos...
TI  - Inyección de fallos para el análisis de la sensibilidad a los errores transitorios, “soft errors”, provocados por las radiaciones en circuitos integrados
TY  - conference output
ER  -