TY  - JOUR
AU  - Mayo, Jorge
AU  - Durán, Cristina
AU  - Franco Peláez, Francisco Javier
AU  - Cueto-Rodriguez, Juan
AU  - Kettunen, Heikki
PY  - 2025
DO  - 10.1109/TNS.2025.3531510
SN  - 0018-9499
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/115657
T2  - IEEE Transactions on Nuclear Science
AB  - This manuscript investigates the heavy ion effects on the novel 7-nm FinFET AMD (formerly, Xilinx) Versal SoC, namely on the configuration memory of the embedded FPGA. The experiment consisted in loading a program in a delidded device, irradiating in...
AB  - Este manuscrito investiga los efectos de iones pesados ​​en el nuevo SoC FinFET AMD (anteriormente, Xilinx) Versal de 7 nm, concretamente en la memoria de configuración del FPGA embebida. El experimento consistió en cargar un programa en un...
LA  - eng
PB  - IEEE
KW  - FinFET
KW  - FPGA
KW  - Heavy ions
KW  - Single event effects
TI  - Multiple cell upsets in the configuration RAM of a 7-nm FinFET SoC under heavy ions
TY  - journal article
ER  -