RT Dissertation/Thesis
T1 Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger
A1 Castro González, Antonio Jesús de
PB Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
SN 978-84-669-0393-6
YR 2002
FD 2002
LK https://hdl.handle.net/20.500.14352/62800
UL https://hdl.handle.net/20.500.14352/62800
LA spa
DS Docta Complutense
RD 21 abr 2025