TY  - THES
AU  - Illescas García, Paula
AU  - Zapico Suárez, David
A3  - Mecha López, Hortensia
A3  - Clemente Barreira, Juan Antonio
PY  - 2017
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/20538
AB  - Para testear la vulnerabilidad de las memorias en entornos radiactivos se utilizan fuentes de radiación que en un breve lapso de tiempo, permiten obtener grandes cantidades de errores. Durante estos tests, se mezclan los errores simples (una partícula...
AB  - To test the vulnerability of memories in radioactive environments, radiation sources are used to obtain large amounts of errors. During these tests, simple errors (a particle affects a memory cell) are mixed with the multiples (one particle affects...
LA  - spa
KW  - Multiple Cell Upset
KW  - Single Bit Upset
KW  - Single Events
KW  - Soft Errors
KW  - SRAMs
TI  - Desarrollo de una herramienta para discernir errores simples en memorias SRAM sometidas a radiación
M3  - bachelor thesis
ER  -