TY  - THES
AU  - Álvarez Herrero, Alberto
A3  - Guerrero Padrón, Héctor
A3  - Cohén, David
PY  - 2004
DO  - b21885291
SN  - 978-84-669-1724-7
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/55268
AB  - La caracterización elipsométrica de recubrimientos de TiO2 depositados por evaporación ha permitido establecer una relación entre la nanoestructura porosa del material y sus propiedades ópticas. Asimismo, ha quedado demostrada la influencia de la...
LA  - spa
PB  - Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
KW  - Detectores
TI  - Caracterización elipsométrica de materiales dieléctricos de aplicación en el desarrollo de sensores evanescentes de fibra óptica para el sector aeroespacial
M3  - doctoral thesis
ER  -