TY  - THES
AU  - Palomar Trives, Carlos
A3  - Franco, Francisco J.
PY  - 2012
UR  - https://hdl.handle.net/20.500.14352/46522
AB  - Este proyecto consiste en emular los errores producidos en memorias semiconductoras por la radiación atmosférica mediante un láser pulsado que actúa de modo semejante a un ión. Se realiza un mapa de sensibilidad de la memoria identificando los puntos...
LA  - spa
KW  - Memoria
KW  - Circuito
KW  - Radiación
KW  - Láser
KW  - Single Event Effect
KW  - Single Event Upset
KW  - Múltiple Bit Upset
KW  - Latch Up
KW  - Sensibilidad
KW  - Memory
KW  - Circuit
KW  - Radiation
KW  - Laser
KW  - Efecto Puntual
KW  - Suceso Aislado
KW  - Suceso Aislado Múltiple
KW  - Sensitivity.
TI  - Inducción de sucesos aislados en memoria SRAM (Induced single events in SRAMs)
M3  - master thesis
ER  -