<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?><?xml-stylesheet type="text/xsl" href="static/style.xsl"?><OAI-PMH xmlns="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/OAI-PMH.xsd"><responseDate>2026-06-08T12:39:55Z</responseDate><request verb="GetRecord" identifier="oai:docta.ucm.es:20.500.14352/102804" metadataPrefix="oai_dc">https://docta.ucm.es/rest/oai/request</request><GetRecord><record><header><identifier>oai:docta.ucm.es:20.500.14352/102804</identifier><datestamp>2024-04-08T23:50:12Z</datestamp><setSpec>com_20.500.14352_14</setSpec><setSpec>col_20.500.14352_22</setSpec></header><metadata><oai_dc:dc xmlns:oai_dc="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/" xmlns:dc="http://purl.org/dc/elements/1.1/" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xmlns:doc="http://www.lyncode.com/xoai" xsi:schemaLocation="http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc/ http://www.openarchives.org/OAI/2.0/oai_dc.xsd">
   <dc:title>Analysis of the effects of natural radiation on Commercial-Off-The-Shelf (COTS) memories</dc:title>
   <dc:title>Análisis de los efectos frente a la radiación natural en memorias comerciales</dc:title>
   <dc:creator>Korkian, Golnaz</dc:creator>
   <dc:contributor>Clemente Barreira, Juan Antonio</dc:contributor>
   <dc:contributor>Fabero Jiménez, Juan Carlos</dc:contributor>
   <dc:subject>004.25 (043.2)</dc:subject>
   <dc:subject>Memorias (Ordenadores)</dc:subject>
   <dc:subject>Computer storage devices</dc:subject>
   <dc:subject>Informática (Informática)</dc:subject>
   <dc:subject>1203.17 Informática</dc:subject>
   <dc:description>Tesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Informática, Departamento de Arquitectura de Computadores y Automática, leída el 26-05-2023.</dc:description>
   <dc:description>In New Space, the need for reduced cost, higher performance, and more prompt delivery plans in radiation-harsh environments have motivated spacecraft designers to use Commercial-Off-The-Shelf (COTS) devices. This Ph.D. thesis investigates the behavior of state-of-the-art mamories and FPGA manufactured in emerging technologies, including nv-SRAM, Ferroelectric Random-Access Memory (FRAM), Resistive Random-Access Memory (ReRAM)), Magnetic Random-Access Memory (MRAM), and a 28-nm bulk Xilinx Artix-7 FPGA against radiation effects. Radiation-ground test were conductted under 15-MeV and 1-MeV protons, thermal, and 14.8/14.2-MeV neutrons, leading to various categories of radiation effects. Experimental results will be presented and discussed with the CY14V101QS and CY15B101J nv-SRAMs, the  CY15B102Q and CY15B104Q FRAMs (manufactured by Infineon Technologies), the MB85AS4MT and MB85AS8MT ReRAMs (manufactured by Fujitsu), and the MR10Q010CSC and MR25H40CDF MRAMs (manufactured by Everspin), and the Artix-7 XC7A100T Xilinx FPGA...</dc:description>
   <dc:description>En lo que se ha venido a llamar "Nuevo Espacio", la necesidad de reducir costes, aumentar el rendimiento y planes de entrega más rápidos en proyectos destinados a entornos sometidos a radiación han motivado que los diseñadores de naves espaciales utilicen dispositivos comerciales no diseñados específicamente para espacio (COTS, Commercial Off The Shelf). Esta tesis investiga sobre el comportamiento frente a los efectos de la radiación de FPGA y memorias disponibles en la actualidad que han sido fabricadas con tecnologías emergentes, como RAM estáticas no volátiles (nv-SRAM), RAM ferroeléctricas (FRAM), RAM resistivas (ReRAm), RAM magnéticas (MRAM) y una FPGA Artix-7 de Xilix con tecnología de 28 nm. Se han realizado experimentos de radiación en instalaciones terrestres con protones de energías de 15 y 1 MeV, así como con neutrones térmicos y con energías de 14.8 y 14.2 MeV, lo que ha provocado varios tipos de efectos. Se presentarán y discutirán los resultados experimentales para las nv-SRAM CY14V101QS y CY15B101J y las FRAM CY15B102Q y CY15B104Q, todas ellas fabricadas por Infineon Technologies; para las ReRAM MB85AS4MT y MB85AS8MT, fabricadas por Fujitsu, y para las MRAM MR10Q010CSC y MR25H40CDF de Everspin. Asimismo, se presentarán los datos obtenidos para la FPGA Artix-7 XC7A100T de Xilinx...</dc:description>
   <dc:description>Fac. de Informática</dc:description>
   <dc:description>TRUE</dc:description>
   <dc:description>unpub</dc:description>
   <dc:date>2024-04-08T08:26:46Z</dc:date>
   <dc:date>2024-04-08T08:26:46Z</dc:date>
   <dc:date>2024-04-08</dc:date>
   <dc:date>2023-05-26</dc:date>
   <dc:type>doctoral thesis</dc:type>
   <dc:identifier>https://hdl.handle.net/20.500.14352/102804</dc:identifier>
   <dc:identifier>XXXX-XXXX</dc:identifier>
   <dc:language>eng</dc:language>
   <dc:rights>open access</dc:rights>
   <dc:format>application/pdf</dc:format>
   <dc:publisher>Universidad Complutense de Madrid</dc:publisher>
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