Vázquez Valverde, CarmenRomero Martín, Núria2023-06-202023-06-202012-11-15https://hdl.handle.net/20.500.14352/48387Tesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Psicología, leída el 17-09-2012En el presente trabajo analizaremos, por un lado, uno de los procesos cognitivos que más investigación ha generado, y que mayor evidencia empírica ha aportado en el estudio de la depresión: los procesos de memoria. Concretamente, en el presente trabajo analizaremos la memoria congruente con el estado de ánimo, y otro fenómeno más actual en la investigación: la memoria autobiográfica sobregeneralizada. En el primer estudio de este trabajo, analizamos ambos patrones de memoria en una muestra de participantes con vulnerabilidad a sufrir un episodio depresivo mayor en el futuro (i.e., personas con historia pasada de depresión). Esto nos permitirá analizar cuál es el papel que podrían tener los sesgos de memoria en la recaída del episodio depresivo. En un segundo estudio, evaluamos una muestra de participantes actualmente deprimidos, para comparar el patrón observado de memoria en esta muestra con el patrón de memoria observado en personas con vulnerabilidad a la depresión. Por otro lado, también evaluaremos diferentes factores que han sido relacionados con la vulnerabilidad cognitiva a la depresión (esquemas negativos sobre uno mismo, estilo rumiativo y supresión de pensamientos), con el fin de intentar esclarecer cuál sería el papel de estos factores en los patrones de memoria observados en personas vulnerables a deprimirse y en personas actualmente deprimidas.spadoctoral thesisopen access616.89-008.454(043.2)Depresión mentalMemoriaProcesos cognitivosPsicología clínica y psicodiagnóstico6101 Patología