Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera

González Fernández, José AntonioLópez Serrano, VíctorBartolomé García, María Jesús2023-06-202023-06-202008-12-18978-84-692-1059-8https://hdl.handle.net/20.500.14352/56429Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008spaCaracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósferadoctoral thesisopen access537.533.35(043.2)Microscopía electrónicaMetalurgiaMateriales2211.21 Metalurgia3312 Tecnología de Materiales