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Sistema de control y medida de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones

dc.book.titleXXII Jornadas de Automática [Recurso electrónico]: Bellaterra, U.A.B. : 12, 13 y 14 de septiembre de 2001
dc.conference.date12/09/2001-15/09/2001
dc.conference.placeBarcelona (Spain)
dc.conference.titleXXII Jornadas de Automática
dc.contributor.authorLozano Rogado, Jesús
dc.contributor.authorFranco Peláez, Francisco Javier
dc.contributor.authorPaz López, Antonio
dc.contributor.authorSantos Blanco, José Pedro
dc.contributor.authorAgapito Serrano, Juan Andrés
dc.date.accessioned2023-06-20T21:10:08Z
dc.date.available2023-06-20T21:10:08Z
dc.date.issued2001-09-12
dc.descriptionJornadas de Automática (22. 2001. Barcelona, España) Este trabajo ha sido financiado por el acuerdo de cooperación entre el CERN y la Universidad Complutense de Madrid por la CICYT (TIC98-0737) y parcialmente apoyada por el ITN.
dc.description.abstractSe presenta en este trabajo un sistema de instrumentación y medida de parámetros característicos de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones. El propósito principal de este sistema es obtener sus características de éstos al mismo tiempo que son irradiados por un haz de neutrones, y determinar los componentes del mercado más resistentes a dicha radiación. Posteriormente, serán utilizados para el desarrollo de la instrumentación de control del Large Hadron Collider en el CERN.
dc.description.departmentDepto. de Estructura de la Materia, Física Térmica y Electrónica
dc.description.facultyFac. de Ciencias Físicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.sponsorshipCICYT
dc.description.sponsorshipCERN
dc.description.sponsorshipPortuguese Research Agency (ICCTI)
dc.description.sponsorshipUniversidad Complutense de Madrid
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/29066
dc.identifier.isbn84-699-4593-9
dc.identifier.officialurlhttp://www.ceautomatica.es/old/actividades/jornadasXXII.htm
dc.identifier.relatedurlhttp://www.ceautomatica.es/old/actividades/jornadas/XXII/documentos/A_10_IC.pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/60873
dc.language.isospa
dc.page.final6
dc.page.initial1
dc.page.total6
dc.publisher[S.n.]
dc.relation.projectIDTIC98-0737
dc.relation.projectIDK476/LHC
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu537.8
dc.subject.keywordInstrumentación
dc.subject.keywordControl de parámetros
dc.subject.keywordComponentes electrónicos.
dc.subject.ucmElectrónica (Física)
dc.subject.ucmProgramación de ordenadores (Física)
dc.subject.ucmRadiactividad
dc.titleSistema de control y medida de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones
dc.typebook part
dcterms.references[1] Jelley, J. V “Cherenkov Radiation and its applications”, Pergamon Press, 1958 [2] G. Messenger, M. Ash “The Effects of Radiation on Electronic Systems ”. New York, Van Nostrand Reinhold, Second Edition, 1992 [3] William J. Perry, “Specifications & Standards –A New Way of Doing Business”. Secretary of Defence Memorandum to Secretaries of the Military Departments, Chairman of the Joint Chiefs of Staff and Under Secretaries of Defence, dated 29 June 1994 [4] P.S. Winokur, G.K. Lum, M. Shaneyfelt, F. Sexton, G. Hash and L. Scott “Use of COTS Microelectronic in Radiation Environments” IEEE Trans. Nuc. Sci. December 1999, Vol 46, Page 1494-1503 [5] L.J. Van der Paw, (1958) A method of measuring specific resistivity an Hall effect of discs of arbitrary shape, Philips Research Reports Vol.13, No1, 1958.
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication662ba05f-c2fc-4ad7-9203-36924c80791a
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