Sistema de control y medida de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones
dc.book.title | XXII Jornadas de Automática [Recurso electrónico]: Bellaterra, U.A.B. : 12, 13 y 14 de septiembre de 2001 | |
dc.conference.date | 12/09/2001-15/09/2001 | |
dc.conference.place | Barcelona (Spain) | |
dc.conference.title | XXII Jornadas de Automática | |
dc.contributor.author | Lozano Rogado, Jesús | |
dc.contributor.author | Franco Peláez, Francisco Javier | |
dc.contributor.author | Paz López, Antonio | |
dc.contributor.author | Santos Blanco, José Pedro | |
dc.contributor.author | Agapito Serrano, Juan Andrés | |
dc.date.accessioned | 2023-06-20T21:10:08Z | |
dc.date.available | 2023-06-20T21:10:08Z | |
dc.date.issued | 2001-09-12 | |
dc.description | Jornadas de Automática (22. 2001. Barcelona, España) Este trabajo ha sido financiado por el acuerdo de cooperación entre el CERN y la Universidad Complutense de Madrid por la CICYT (TIC98-0737) y parcialmente apoyada por el ITN. | |
dc.description.abstract | Se presenta en este trabajo un sistema de instrumentación y medida de parámetros característicos de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones. El propósito principal de este sistema es obtener sus características de éstos al mismo tiempo que son irradiados por un haz de neutrones, y determinar los componentes del mercado más resistentes a dicha radiación. Posteriormente, serán utilizados para el desarrollo de la instrumentación de control del Large Hadron Collider en el CERN. | |
dc.description.department | Depto. de Estructura de la Materia, Física Térmica y Electrónica | |
dc.description.faculty | Fac. de Ciencias Físicas | |
dc.description.refereed | TRUE | |
dc.description.sponsorship | CICYT | |
dc.description.sponsorship | CERN | |
dc.description.sponsorship | Portuguese Research Agency (ICCTI) | |
dc.description.sponsorship | Universidad Complutense de Madrid | |
dc.description.status | pub | |
dc.eprint.id | https://eprints.ucm.es/id/eprint/29066 | |
dc.identifier.isbn | 84-699-4593-9 | |
dc.identifier.officialurl | http://www.ceautomatica.es/old/actividades/jornadasXXII.htm | |
dc.identifier.relatedurl | http://www.ceautomatica.es/old/actividades/jornadas/XXII/documentos/A_10_IC.pdf | |
dc.identifier.uri | https://hdl.handle.net/20.500.14352/60873 | |
dc.language.iso | spa | |
dc.page.final | 6 | |
dc.page.initial | 1 | |
dc.page.total | 6 | |
dc.publisher | [S.n.] | |
dc.relation.projectID | TIC98-0737 | |
dc.relation.projectID | K476/LHC | |
dc.rights.accessRights | open access | |
dc.subject.cdu | 537.8 | |
dc.subject.keyword | Instrumentación | |
dc.subject.keyword | Control de parámetros | |
dc.subject.keyword | Componentes electrónicos. | |
dc.subject.ucm | Electrónica (Física) | |
dc.subject.ucm | Programación de ordenadores (Física) | |
dc.subject.ucm | Radiactividad | |
dc.title | Sistema de control y medida de componentes electrónicos sometidos a radiación de neutrones | |
dc.type | book part | |
dcterms.references | [1] Jelley, J. V “Cherenkov Radiation and its applications”, Pergamon Press, 1958 [2] G. Messenger, M. Ash “The Effects of Radiation on Electronic Systems ”. New York, Van Nostrand Reinhold, Second Edition, 1992 [3] William J. Perry, “Specifications & Standards –A New Way of Doing Business”. Secretary of Defence Memorandum to Secretaries of the Military Departments, Chairman of the Joint Chiefs of Staff and Under Secretaries of Defence, dated 29 June 1994 [4] P.S. Winokur, G.K. Lum, M. Shaneyfelt, F. Sexton, G. Hash and L. Scott “Use of COTS Microelectronic in Radiation Environments” IEEE Trans. Nuc. Sci. December 1999, Vol 46, Page 1494-1503 [5] L.J. Van der Paw, (1958) A method of measuring specific resistivity an Hall effect of discs of arbitrary shape, Philips Research Reports Vol.13, No1, 1958. | |
dspace.entity.type | Publication | |
relation.isAuthorOfPublication | 662ba05f-c2fc-4ad7-9203-36924c80791a | |
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery | 662ba05f-c2fc-4ad7-9203-36924c80791a |
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