Estudio por microscopía electrónica de defectos producidos por irradiación de aluminio con iones y electrones

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dc.contributor.authorGómez Giráldez, María del Carmen
dc.date.accessioned2023-06-19T22:09:33Z
dc.date.available2023-06-19T22:09:33Z
dc.date.defense1975
dc.date.issued2015
dc.descriptionTesis-Universidad Complutense de Madrid, 1975.
dc.description.facultyFac. de Ciencias Físicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.sponsorshipProQuest
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/53422
dc.identifier.doi5310318134
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/40902
dc.language.isospa
dc.page.total169
dc.publication.placeMadrid
dc.publisherUniversidad Complutense de Madrid
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu537.533.35(043)
dc.subject.keywordMicroscopía electrónica
dc.subject.ucmFísica (Física)
dc.subject.unesco22 Física
dc.titleEstudio por microscopía electrónica de defectos producidos por irradiación de aluminio con iones y electrones
dc.typedoctoral thesis
dspace.entity.typePublication

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