Determinación de la estructura laminar en cerebrosidos mediante análisis de difracción de rayos X a bajo ángulo

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dc.contributor.advisorFernández Bermúdez, Salvador
dc.contributor.authorCruz Cañas, Víctor Luis
dc.date.accessioned2023-06-19T22:38:10Z
dc.date.available2023-06-19T22:38:10Z
dc.date.defense1985
dc.date.issued2015
dc.descriptionTesis Univ. Complutense de Madrid.
dc.description.facultyFac. de Ciencias Químicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.sponsorshipProQuest
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/53881
dc.identifier.doi5322346355
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/41325
dc.language.isospa
dc.page.total171
dc.publication.placeMadrid
dc.publisherUniversidad Complutense de Madrid
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu548.73(043.2)
dc.subject.cdu544(043.2)
dc.subject.keywordRayos X
dc.subject.keywordQuímica física
dc.subject.ucmQuímica
dc.subject.ucmQuímica física (Química)
dc.subject.unesco23 Química
dc.titleDeterminación de la estructura laminar en cerebrosidos mediante análisis de difracción de rayos X a bajo ángulo
dc.typedoctoral thesis
dspace.entity.typePublication

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