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Improving Patch Correctness Analysis via Random Testing and Large Language Models

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dc.conference.title2024 IEEE Conference on Software Testing, Verification and Validation (ICST)
dc.contributor.authorMolina, Facundo
dc.contributor.authorCopia, Juan Manuel
dc.contributor.authorGorla, Alessandra
dc.date.accessioned2026-03-17T18:07:09Z
dc.date.available2026-03-17T18:07:09Z
dc.date.issued2024
dc.description.departmentDepto. de Sistemas Informáticos y Computación
dc.description.facultyFac. de Informática
dc.description.refereedTRUE
dc.description.statuspub
dc.identifier.doi10.1109/ICST60714.202 4.00036
dc.identifier.officialurlhttps://doi.org/10.1109/ICST60714.202 4.00036
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/134081
dc.language.isoeng
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.ucmSoftware
dc.subject.unesco1203.17 Informática
dc.titleImproving Patch Correctness Analysis via Random Testing and Large Language Models
dc.typeconference paper
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