Aviso: por motivos de mantenimiento y mejora del repositorio, mañana martes día 13 de mayo, entre las 9 y las 14 horas, Docta Complutense, no funcionará con normalidad. Disculpen las molestias.
 

Sistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs

Simple item page
dc.book.titleXX Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación
dc.conference.date10/07/2013-12/07/2013
dc.conference.placeMadrid (Spain)
dc.conference.titleSeminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación 2013 (SAAEI'13)
dc.contributor.authorAmigo de la Huerga, Ángel
dc.contributor.authorPalomar Trives, Carlos
dc.contributor.authorFranco Peláez, Francisco Javier
dc.contributor.authorLópez Calle, Isabel
dc.contributor.authorCervera, María Fe
dc.contributor.authorHernández Cachero, Antonio
dc.contributor.authorAgapito Serrano, Juan Andrés
dc.date.accessioned2023-06-19T15:54:28Z
dc.date.available2023-06-19T15:54:28Z
dc.date.issued2013-07-10
dc.descriptionEn G Drive P1-MIC1.pdf Seminario Anual de Automática, Electrónica Industrial e Instrumentación (SAAEI 2013) (20. 2013. Madrid). Este trabajo fue financiado parcialmente por el proyecto MCINN AYA2009-13300-C03-03 y por UCM-BSCH.
dc.description.abstractEn esta contribución se explica el diseño, fabricación y verificación experimental de un sistema automático de lectura y escritura de memorias SRAM cuyo objeto es la determinación de la tasa de errores asociados a la acción de los rayos cósmicos e impurezas radiactivas en esa tecnología de fabricación. Se ha concebido este sistema para que se pudiera construir en una placa de reducidas dimensiones y que, de este modo, pudiera transportarse en la cabina de un avión durante vuelos comerciales.
dc.description.departmentDepto. de Estructura de la Materia, Física Térmica y Electrónica
dc.description.facultyFac. de Ciencias Físicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.sponsorshipMinisterio de Educación y Ciencia
dc.description.sponsorshipUniversidad Complutense de Madrid
dc.description.sponsorshipBanco Santander
dc.description.sponsorshipMCINN
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/29170
dc.identifier.isbn978-84-15302-60-5
dc.identifier.officialurlhttps://drive.google.com/a/ucm.es/folderview?id=0B42e6qwxso5WendQcDJWN2lNODQ&usp=sharing&tid=0B42e6qwxso5WUnMzS2xuLVVWTEk
dc.identifier.relatedurlhttp://saaei.org/edicion13/
dc.identifier.relatedurlhttp://saaei.org/edicion13/archivos/Libro_de_Actas_SAAEI_2013.pdf
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/35719
dc.language.isospa
dc.page.final6
dc.page.initial1
dc.page.total6
dc.publisherEscuela Técnica Superior de Ingenieros Industriales. Universidad Politécnica de Madrid
dc.relation.projectIDAYA2009-13300-C03
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu537.8
dc.subject.keywordFiabilidad
dc.subject.keywordCircuitos integrados
dc.subject.keywordSistemas autónomos
dc.subject.ucmElectrónica (Física)
dc.subject.ucmRadiactividad
dc.subject.ucmCircuitos integrados
dc.subject.unesco2203.07 Circuitos Integrados
dc.titleSistema autónomo de detección y almacenamiento de errores por sucesos aislados en SRAMs
dc.typebook part
dcterms.references[1] R. Velazco and F. Franco, “Single Event Effects on Digital Integrated Circuits: Origins and Mitigation Techniques,” in IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 2007. ISIE 2007., 2007, pp. 3322–3327. [2] M. Nicolaidis et al., Soft Errors in Modern Electronic Systems, ser. Frontiers in Electronic Testing. Springer, 2011. [3] J. Ziegler, SER-History, Trends, and Challenges: A Guide for Designing with Memory ICs. Cypress Semiconductors, 2004. [4] A. Lesea, S. Drimer, J. Fabula, C. Carmichael, and P. Alfke, “The rosetta experiment: atmospheric soft error rate testing in differing technology FPGAs,” IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, vol. 5, no. 3, pp. 317–328, 2005. [5] J. Autran, P. Roche, J. Borel, C. Sudre, K. Castellani-Coulie, D. Munteanu, T. Parrassin, G. Gasiot, and J.-P. Schoellkopf, “Altitude SEE Test European Platform (ASTEP) and First Results in CMOS 130 nm SRAM,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 54, no. 4, pp. 1002–1009, 2007. [6] P. Peronnard, R. Velazco, and G. Hubert, “Real-Life SEU Experiments on 90 nm SRAMs in Atmospheric Environment: Measures Versus Predictions Done by Means of MuscaSep ? Platform,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 56, no. 6, pp. 3450–3455, 2009. [7] L. Artola, R. Velazco, G. Hubert, S. Duzellier, T. Nuns, B. Guerard, P. Peronnard, W. Mansour, F. Pancher, and F. Bezerra, “In Flight SEU/MCU Sensitivity of Commercial Nanometric SRAMs: Operational Estimations,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 58, no. 6, pp. 2644–2651, 2011. [8] S. Martinie, J. Autran, D. Munteanu, F. Wrobel, M. Gedion, and F. Saigne, “Analytical Modeling of Alpha-Particle Emission Rate at Wafer-Level,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 58, no. 6, pp. 2798–2803, 2011. [9] S. Martinie, J. Autran, S. Sauze, D. Munteanu, S. Uznanski, P. Roche, and G. Gasiot, “Underground Experiment and Modeling of Alpha Emitters Induced Soft-Error Rate in CMOS 65 nm SRAM,” IEEE Transactions on Nuclear Science, vol. 59, no. 4, pp. 1048–1053, 2012. [10] G. Hubert, R. Velazco, C. Federico, A. Cheminet, C. Silva-Cardenas, L. V. E. Caldas, F. Pancher, V. Lacoste, F. Palumbo, W. Mansour, L. Artola, F. Pineda, and S. Duzellier, “Continuous High-Altitude Measurements of Cosmic Ray Neutrons and SEU/MCU at Various Locations: Correlation and Analyses Based-On MUSCA SEP3,” IEEE Transactions on Nuclear Science (In Press), 2013. [11] R. Velazco, “Private Communication.”
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication662ba05f-c2fc-4ad7-9203-36924c80791a
relation.isAuthorOfPublication61e3c731-f799-4eee-b4c2-7e5ad8b417c2
relation.isAuthorOfPublication.latestForDiscovery662ba05f-c2fc-4ad7-9203-36924c80791a

Download

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
SAEEI2013-Amigo-UCM.pdf
Size:
1.24 MB
Format:
Adobe Portable Document Format
downoload Download

Collections

Secciones de libros