Nessy 7.0: entorno de inyección de fallos para Artix-7

dc.contributor.advisorMecha López, Hortensia
dc.contributor.advisorFabero Jiménez, Juan Carlos
dc.contributor.authorClaramunt Pérez, Juan Andrés
dc.date.accessioned2023-06-21T06:18:52Z
dc.date.available2023-06-21T06:18:52Z
dc.date.issued2016
dc.degree.titleDoble Grado en Ingeniería Informática y Matemáticas
dc.descriptionTrabajo de Fin de Grado en Ingeniería Informática y Matemáticas (Universidad Complutense, Facultad de Informática, curso 2015/2016)
dc.description.abstractEl hardware reconfigurable es una tecnología emergente en aplicaciones espaciales.Debido a las características de este hardware, pues su configuración lógica queda almacenada en memoria RAM estática, es susceptible de diversos errores que pueden ocurrir con mayor frecuencia cuando es expuesta a entornos de mayor radiación, como en misiones de exploración espacial. Entre estos se encuentran los llamados SEU o Single Event Upset, y suelen ser generados por partículas cósmicas, pues pueden tener la capacidad de descargar un transistor y de este modo alterar un valor lógico en memoria, y por tanto la configuración lógica del circuito. Por ello que surge la necesidad de desarrollar técnicas que permitan estudiar las vulnerabilidades de diversos circuitos, de forma económica y rápida, además de técnicas de protección de los mismos. En este proyecto nos centraremos en desarrollar una herramienta con este propósito, Nessy 7.0. La plataforma nos permitirá emular, detectar y analizar posibles errores causados por la radiación en los sistemas digitales. Para ello utilizaremos como dispositivo controlador, una Raspberry Pi 3, que contendrá la herramienta principal, y controlará y se comunicará con la FPGA que implementará el diseño a testear, en este caso una placa Nexys 4 DDR con una FPGA Artix-7. Finalmente evaluaremos un par de circuitos con la plataforma.
dc.description.abstractReconfigurable hardware is an emerging technology in space applications. Due to the characteristics of this hardware, since their logical configuration is stored in static RAM, it is susceptible to various events that can occur more frequently when exposed to high radiation environments, like in space exploration missions. These events are called Single Event Upset or SEU, and are usually generated by cosmic particles, they may be able to discharge a transistor and thus alter a logical value in memory, and therefore the logic circuit configuration. That is why the need to develop techniques to study the vulnerabilities of various circuits, economically and quickly arises. In this project we will focus on developing a tool for this purpose, Nessy 7.0. This platform will allow us to emulate, detect and analyze possible errors caused by radiation in digital systems. We will use as a controller device, a Raspberry Pi 3 that contain the main tool, and control and communicate with the FPGA to implement the design under test, in this case a Nexys 4 DDR board with an Artix-7 FPGA. Finally we evaluate a couple of circuits with the developed platform.
dc.description.departmentDepto. de Arquitectura de Computadores y Automática
dc.description.facultyFac. de Informática
dc.description.refereedTRUE
dc.description.statusunpub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/38458
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/66033
dc.language.isospa
dc.page.total75
dc.rightsAtribución-NoComercial 3.0 España
dc.rights.accessRightsopen access
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc/3.0/es/
dc.subject.cdu004.312(043.3)
dc.subject.cdu004.3(043.3)
dc.subject.keywordFPGA
dc.subject.keywordArtix-7
dc.subject.keywordRaspberry Pi
dc.subject.keywordSEU
dc.subject.keywordBitflip
dc.subject.keywordHardware reconfigurable
dc.subject.keywordInyección fallos
dc.subject.keywordReconfigurable hardware
dc.subject.keywordFault injection
dc.subject.ucmHardware
dc.titleNessy 7.0: entorno de inyección de fallos para Artix-7
dc.typebachelor thesis
dspace.entity.typePublication
relation.isAdvisorOfPublication2363ed06-f92b-4c10-bd9a-87ac2fcce006
relation.isAdvisorOfPublicatione7a0fb66-7ed6-4ed0-9b76-bc3b0fa54d04
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