Caracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger

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dc.contributor.authorCastro González, Antonio Jesús de
dc.date.accessioned2023-06-20T23:39:52Z
dc.date.available2023-06-20T23:39:52Z
dc.date.defense1992
dc.date.issued2002
dc.description.departmentDepto. de Física de Materiales
dc.description.facultyFac. de Ciencias Físicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/1886
dc.identifier.isbn978-84-669-0393-6
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/62800
dc.language.isospa
dc.publication.placeMadrid
dc.publisherUniversidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.keywordFísica del estado sólido
dc.subject.ucmFísica del estado sólido
dc.subject.unesco2211 Física del Estado Sólido
dc.titleCaracterización eléctrica de películas delgadas de SIO2 mediante esprectoscopia de electrones auger
dc.typedoctoral thesis
dspace.entity.typePublication

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