Aviso: para depositar documentos, por favor, inicia sesión e identifícate con tu cuenta de correo institucional de la UCM con el botón MI CUENTA UCM. No emplees la opción AUTENTICACIÓN CON CONTRASEÑA
 

Cathodoluminescence spectroscopy for evaluation of defect passivation in GaSb

Thumbnail Image

Official URL

http://dx.doi.org/10.1557/PROC-406-537

Full text at PDC

Publication date

1996

Authors

Advisors (or tutors)

Editors

Journal Title

Journal ISSN

Volume Title

Publisher

Materials Research Soc
Citations
Google Scholar
Exportar
DC QDC MarcXML RDF MODS METS ORE-ATOM

URI

https://hdl.handle.net/20.500.14352/60858

Citation

Abstract

Research Projects

Organizational Units

Journal Issue

Description

© Materials Research Soc. Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials Processing (2. 1995. Boston, USA)

UCM subjects

Física de materiales

Unesco subjects

Keywords

Collections

Secciones de libros