Método óptico para la caracterización automática de defectos superficiales en hilos metálicos finos
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Publication date
2006
Defense date
2001
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Publisher
Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
Citation
Abstract
Description
Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Físicas, Departamento de Óptica, leída el 10-01-2001