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Método óptico para la caracterización automática de defectos superficiales en hilos metálicos finos

dc.contributor.advisorBernabeu, E.
dc.contributor.authorSánchez Brea, Luis Miguel
dc.date.accessioned2023-06-20T15:02:58Z
dc.date.available2023-06-20T15:02:58Z
dc.date.defense2001
dc.date.issued2006
dc.descriptionTesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Físicas, Departamento de Óptica, leída el 10-01-2001
dc.description.departmentDepto. de Óptica
dc.description.facultyFac. de Ciencias Físicas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.statuspub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/7284
dc.identifier.doib23153222
dc.identifier.isbn978-84-669-1764-3
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/56082
dc.language.isospa
dc.publication.placeMadrid
dc.publisherUniversidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu535(043.2)(0.034)
dc.subject.keywordÓptica
dc.subject.ucmÓptica (Física)
dc.subject.unesco2209.19 Óptica Física
dc.titleMétodo óptico para la caracterización automática de defectos superficiales en hilos metálicos finos
dc.typedoctoral thesis
dspace.entity.typePublication
relation.isAuthorOfPublication72f8db7f-8a25-4d15-9162-486b0f884481
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