Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera
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Publication date
2008
Defense date
05/06/2008
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Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
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Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008