Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera

dc.contributor.advisor	González Fernández, José Antonio
dc.contributor.advisor	López Serrano, Víctor
dc.contributor.author	Bartolomé García, María Jesús
dc.date.accessioned	2023-06-20T15:19:18Z
dc.date.available	2023-06-20T15:19:18Z
dc.date.defense	2008-06-05
dc.date.issued	2008-12-18
dc.description	Tesis de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Químicas, Departamento de Ciencia de los Materiales e Ingeniería Metalúrgica, leída el 05-06-2008
dc.description.department	Depto. de Ingeniería Química y de Materiales
dc.description.faculty	Fac. de Ciencias Químicas
dc.description.refereed	TRUE
dc.description.status	pub
dc.eprint.id	https://eprints.ucm.es/id/eprint/8309
dc.identifier.isbn	978-84-692-1059-8
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.14352/56429
dc.language.iso	spa
dc.page.total	193
dc.publication.place	Madrid
dc.publisher	Universidad Complutense de Madrid, Servicio de Publicaciones
dc.rights.accessRights	open access
dc.subject.cdu	537.533.35(043.2)
dc.subject.keyword	Microscopía electrónica
dc.subject.ucm	Metalurgia
dc.subject.ucm	Materiales
dc.subject.unesco	2211.21 Metalurgia
dc.subject.unesco	3312 Tecnología de Materiales
dc.title	Caracterización mediante técnicas de microscopía electrónica (MEB y MET) del anodizado y sellado del aluminio: comportamiento en la exposición a la atmósfera
dc.type	doctoral thesis
dspace.entity.type	Publication

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