Robust statistical inference for one-shot devices based on divergences

Abstract

A one-shot device is a unit that performs its function only once and, after use, the device either gets destroyed or must be rebuilt. For this kind of device, one can only know whether the failure time is either before or after a speci c inspection time, and consequently the lifetimes are either left- or right-censored, with the lifetime being less than the inspection time if the test outcome is a failure (resulting in left censoring) and the lifetime being more than the inspection time if the test outcome is a success (resulting in right censoring). An accelerated life test (ALT) plan is usually employed to evaluate the reliability of such products by increasing the levels of stress factors and then extrapolating the life characteristics from high stress conditions to normal operating conditions. This acceleration process will shorten the life span of devices and reduce the costs associated with the experiment. The study of one-shot device from ALT data has been developed considerably recently, mainly motivated by the work of Fan et al. [2009]...Los dispositivos de un solo uso (one shot devices en ingles), son aquellos que, una vez usados, dejan de funcionar. La mayor dificultad a la hora de modelizar su tiempo de vida es que solo se puede saber si el momento de fallo se produce antes o despues de un momento específico de inspeccion. As pues, se trata de un caso extremo de censura intervalica: si el tiempo de vida es inferior al de inspeccion observaremos un fallo (censura por la izquierda), mientras que si el tiempo de vida es mayor que el tiempo de inspeccion, observaremos un exito (censura por la derecha). Para la observacion y modelizacion de este tipo de dispositivos es comun el uso de tests de vida acelerados. Los tests de vida acelerados permiten evaluar la fiabilidad de los productos en menos tiempo, incrementando las condiciones a las que se ven sometidos los dispositivos para extrapolar despues estos resultados a condiciones mas normales. El estudio de los dispositivos de un solo uso por medio de tests de vida acelerados se ha incrementado considerablemente en los ultimos a~nos motivado, principalmente, por el trabajo de Fan et al. [2009]...