Robust statistical inference for one-shot devices based on divergences

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dc.contributor.advisorMartín Apaolaza, Nirian
dc.contributor.advisorPardo Llorente, Leandro
dc.contributor.authorCastilla González, Elena María
dc.date.accessioned2023-06-16T15:03:14Z
dc.date.available2023-06-16T15:03:14Z
dc.date.defense2021-06-30
dc.date.issued2021-08-20
dc.descriptionTesis inédita de la Universidad Complutense de Madrid, Facultad de Ciencias Matemáticas, leída el 30-06-2021
dc.description.abstractA one-shot device is a unit that performs its function only once and, after use, the device either gets destroyed or must be rebuilt. For this kind of device, one can only know whether the failure time is either before or after a speci c inspection time, and consequently the lifetimes are either left- or right-censored, with the lifetime being less than the inspection time if the test outcome is a failure (resulting in left censoring) and the lifetime being more than the inspection time if the test outcome is a success (resulting in right censoring). An accelerated life test (ALT) plan is usually employed to evaluate the reliability of such products by increasing the levels of stress factors and then extrapolating the life characteristics from high stress conditions to normal operating conditions. This acceleration process will shorten the life span of devices and reduce the costs associated with the experiment. The study of one-shot device from ALT data has been developed considerably recently, mainly motivated by the work of Fan et al. [2009]...
dc.description.abstractLos dispositivos de un solo uso (one shot devices en ingles), son aquellos que, una vez usados, dejan de funcionar. La mayor dificultad a la hora de modelizar su tiempo de vida es que solo se puede saber si el momento de fallo se produce antes o despues de un momento específico de inspeccion. As pues, se trata de un caso extremo de censura intervalica: si el tiempo de vida es inferior al de inspeccion observaremos un fallo (censura por la izquierda), mientras que si el tiempo de vida es mayor que el tiempo de inspeccion, observaremos un exito (censura por la derecha). Para la observacion y modelizacion de este tipo de dispositivos es comun el uso de tests de vida acelerados. Los tests de vida acelerados permiten evaluar la fiabilidad de los productos en menos tiempo, incrementando las condiciones a las que se ven sometidos los dispositivos para extrapolar despues estos resultados a condiciones mas normales. El estudio de los dispositivos de un solo uso por medio de tests de vida acelerados se ha incrementado considerablemente en los ultimos a~nos motivado, principalmente, por el trabajo de Fan et al. [2009]...
dc.description.facultyFac. de Ciencias Matemáticas
dc.description.refereedTRUE
dc.description.statusunpub
dc.eprint.idhttps://eprints.ucm.es/id/eprint/67473
dc.identifier.urihttps://hdl.handle.net/20.500.14352/5633
dc.language.isoeng
dc.page.total172
dc.publication.placeMadrid
dc.publisherUniversidad Complutense de Madrid
dc.rights.accessRightsopen access
dc.subject.cdu519.224(043.2)
dc.subject.keywordRobust statistics
dc.subject.keywordEstadística robusta
dc.subject.ucmEstadística matemática (Matemáticas)
dc.subject.unesco1209 Estadística
dc.titleRobust statistical inference for one-shot devices based on divergences
dc.title.alternativeInferencia estadística robusta basada en divergencias para dispositivos de un sólo uso
dc.typedoctoral thesis
dspace.entity.typePublication
relation.isAdvisorOfPublication1705b043-bb96-4d44-8e13-1c2238cf1717
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