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Proceedings to the 9th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS 2008) held in Toledo, Spain, 29 June-3 July, 2008. Preface

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http://www.sciencedirect.com/science/journal/07496036/45/4-5

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Publication date

2009

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Academic Press Ltd- Elsevier Science Ltd
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https://hdl.handle.net/20.500.14352/43994

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©2008 Elsevier Ltd.

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